Rastereletronenmikroskop, EDX-Sonde
Info
- Mit diesem Rasterelektronenmikroskop ( Supra 55 VP_Zeiss ) sind topographische und morphologische Auflösungen von 10x - 300000x (mm - nm) von Materialober- und Bruchflächen von Feststoffen aller Art, sowie biologischem Material, möglich.
- Es verfügt über fünf Detektoren: Inlens, SE2, Centaurus ( BSE -backscattered elektrons ) VPSE und EDX. Beschleunigungsspannung reicht von 100 V- 30 KV.
- Die Probenkammer hat variable Druckeinstellungsmöglichkeiten, vom Hochvakuum bis zum Niederdruckbereich ( 20- 60 Pa ). Somit sind auch hochauflösende Abbildungen von nichtleitenden und gasenden Materialien möglich.
- EDX ( EnergieDispersive- Röntgenmikroanalyse ): Die EDX- Sonde ( Typ: Sapphire_Ametec GmbH ) ermöglicht die elementare Analyse von Proben, sowohl qualitativ als quantitativ in einem lokalen Bereich.
